Maximum Sample Size: 16×16 cm²
Maximum Sample Height: 3 cm
La TRFLIM permet d’observer les déclins de luminescence dans un matériau suite à une excitation optique. Il permet ainsi d’évaluer la qualité d’un matériau à travers une analyse fine de ses niveaux électroniques et de leurs déclins radiatifs respectifs.
Le matériau étudié est soumis à un flux lumineux (laser impulsionnel Talisker de Coherent, autres lasers, lampes…) qui permet d’exciter les porteurs en son sein. Un microscope image alors cet échantillon à différents intervalles de temps (typiquement t=0 est pris en référence à l’instant de l’impulsion laser), à l’aide d’une caméra ultrarapide (ou streak camera, ici un modèle em-ICCD PI-MAX4 de Princeton Instruments). Un ordinateur est ensuite utilisé pour la synchronisation temporelle du montage et pour le post traitement des données. L’IPVF dispose spécifiquement d’une grande maitrise dans la modélisation des procédés de luminescence et dans l’interprétation des résultats obtenus.
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